SPARK ÖLÇÜM TEKNOLOJİLERİ SİZLERİ MODELLEME VE KARAKTERİZASYON SEMİNERİNE BEKLİYOR… / 10-02-2015


Değerli Müşterilerimiz,

Keysight Technologies'in Türkiye'deki Tek Yetkili Distribütörü ve  Çözüm Ortağı  Spark Ölçüm  Teknolojileri A.Ş. olarak  sizleri          17 Şubat 2015 tarihinde Ankara’da Bilkent Üniversitesi Nanoteknoloji Araştırma Merkezi’nde   ve   19 Şubat Sabancı Üniversitesi’nde düzenleyeceğimiz Modelleme veKarakterizasyonSemineri’ne davet etmekten mutluluk duyuyoruz.

Aşağıda seminerlerin düzenleneceği yer bilgilerini bulabilir ve seminer programına ulaşabilirsiniz.

 

17 Şubat 09:00 –15:30

Bilkent Üniversitesi Nanotam Eski Bina Seminer Salonu

19 Şubat 09:00 – 15:30

 Sabancı    Üniversitesi   Sunum  Seminer   Salonu                                                                            Sabancı  Üniversitesi,  Orta Mahalle, Üniversite Caddesi No:27 Tuzla,  İstanbul

 

 

 

MODELLEME VE KARAKTERİZASYON SEMİNERİ PROGRAMI

09:00 - 09:30

Keynote: Toward technology unification
Blending  Power/Light/Cost/Speed on single substrate
Addressing  novel semiconductor challenges

09:30 - 10:15

University Partner Paper

10:15 - 10:45

Break - Technology Fair

10:45 - 11:30

High Power Measurement challenges - GaN / SiC / III-V Characterization                                    Benoit Mongellaz - Keysight

11:30 - 12:00

On-Wafer Measurement and Analysis of Flicker Noise and Random Telegraph Noise              Vincent Launois - Keysight

12:00 - 13:00

ÖĞLE YEMEĞİ

13:00 - 14:30

Demo :Measurement and modeling of UMS GaN device (B1500, PNA-X, IC-CAP)

14:30 - 15:00

Break - Technology Fair

15:00 - 15:30

Industry Trends and Solutions in Nonlinear Component Characterization with NVNA -        Emmanuel Rosello -  Keysight

15:30

Closing Session

 

 


DİĞER HABER BAŞLIKLARI

HABERLERİN TAMAMI >>